简介：组织形貌，包括材料的外观形貌、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态(含量与分布)、界面(表面、相界、晶界)、位向关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。
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SEM/扫描电子显微镜捷克TESCAN MIRA 3，SEM利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等信息。
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TEM/透射电子显微镜日本电子/JEOL JEM-2100、日本日立/HITACHI HT7800（120kV）TEM，是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。
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AFM/原子力显微镜德国Bruker Multimode 8，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
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成分含量
XRD/X射线衍射 XPS/X射线光电子能谱 XRF/X射线荧光光谱 EPMA/电子探针 SAXS/小角散射 ICP/电感耦合等离子体 EA/有机元素分析 TOC/总有机碳分析 -
热学性能
TGA/热重分析仪 DSC/差示扫描量热仪 Hotdisk/导热系数仪 DMA/动态热机械分析仪 激光导热仪 -
力学性能
纳米压痕 MST/微米划痕 台阶仪 接触角测试 -
物理性能
激光粒度仪 固体表面Zeta电位测试仪 BET/全自动比表面及孔隙度分析仪 MIP/高性能全自动压汞仪 TPR/程序升温化学吸附仪 -
声光电磁
VSM/磁滞回线 介电类测试 铁电类测试 电化学交流阻抗（电化学工作站） 压电系数d33测试仪 Hallmeasurement/霍尔效应
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