简介：声光电磁分析常用于纳米材料特殊性能的研究。如：纳米的固体材料主要是具有高韧性等。
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VSM/磁滞回线美国Lake Shore 7404，磁滞回线（振动样品磁强计）/VSM主要用于检测材料的磁学性能，如磁滞回线、初始磁化曲线、磁化数据时间函数以及变温磁性的测量等，从而得到材料的磁化率、饱和磁化强度、矫顽力、剩磁和居里温度等关键性能参数。
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介电类测试美国是德科技/Keysight E4990A/E4980A/E4980AL + 变温系统，①介电温谱；②介电频谱；③变温阻抗（电阻）。
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铁电类测试德国AIXACT TF Analyzer 2000E（10KV高压电压），具备铁电、压电、热释电材料所有基本特性测试功能，可与激光干涉仪和SPM扫描探针显微镜等微位移传感器联用，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。
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电化学交流阻抗（电化学工作站）荷兰瑞士万通/Autolab302，用于材料电学特性、材料腐蚀、电沉积、电化学阻抗等测试。
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压电系数d33测试仪英国piezotest PM d33测试仪，在测量压电系数的同时，可记录d31、d15、电容、电量、tan δ等参数，并也可计算g33、介电常数和εT33等。可广泛用于铁电、压电材料以及相关器件性能的评价与测试。
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Hallmeasurement/霍尔效应美国Lake Shore M91，用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。
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成分含量
XRD/X射线衍射 XPS/X射线光电子能谱 XRF/X射线荧光光谱 EPMA/电子探针 SAXS/小角散射 ICP/电感耦合等离子体 EA/有机元素分析 TOC/总有机碳分析 -
热学性能
TGA/热重分析仪 DSC/差示扫描量热仪 Hotdisk/导热系数仪 DMA/动态热机械分析仪 激光导热仪 -
力学性能
纳米压痕 MST/微米划痕 台阶仪 接触角测试 -
物理性能
激光粒度仪 固体表面Zeta电位测试仪 BET/全自动比表面及孔隙度分析仪 MIP/高性能全自动压汞仪 TPR/程序升温化学吸附仪 -
声光电磁
VSM/磁滞回线 介电类测试 铁电类测试 电化学交流阻抗（电化学工作站） 压电系数d33测试仪 Hallmeasurement/霍尔效应
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