美国Agilent Nano Indenter G200,“纳米/显微/宏观”尺度的仪器化压入和划入,主要用于测试小块或薄膜样品的弹性模量和压入硬度、薄膜临界附着力和摩擦系数等。具有连续刚度测试模式、原位压痕形貌扫描、刚度扫描和快速压入测试等功能。
美国Agilent Nano Indenter G200,微米划痕测试仪广泛用于表征厚度小于 5 μm 的薄膜和涂层的结合力。它还是分析有机和无机软质涂层和硬质涂层的常用仪器。
德国Bruker DektakXT,台阶仪主要是对薄膜材料常规性能的厚度进行检测。它广泛应用于太阳能薄膜材料、半导体硅片、微电子器件、薄膜化学涂层、平板显示器等研究领域,在新型薄膜材料的开发研究工作上极为重要。
德国KRUSS DSA100,接触角是指在一固体水平平面上滴一液滴,固体表面上的固-液-气三相交界点处,其气-液界面和固-液界面两切线把液相夹在其中时所成的角。主要用于测量液体对固体的接触角,即液体对固体的浸润性,可测量各种液体对各种材料的接触角。