湖南中邦恒科检测技术有限公司

成分含量

首页 > 成分含量

简介：成分检测主要是检测产品的已知成分，对已知成分进行定性定量分析，是一个已知成分验证的过程，一般需要做成分检测的是产品出现质量问题，或是产品本身是委托他人生产，为了验证其是否严格按照所提供的配方及要求进行生产。

XRD/X射线衍射

日本理学 XRD SmartLab，主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析；晶体物相的定量分析；晶体材料微结构的表征（晶胞参数的精密测定、晶粒大小、微应力等）；薄膜材料的研究；掠入射小角X衍射；结晶度分析等。

方案详情

 立即咨询
XPS/X射线光电子能谱

日本岛津/Kratos AXIS SUPRA+，主要应用于各种有机和无机固体材料的表面元素及其价态定性、定量分析，表面元素化学成像及深度剖析；可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。

方案详情

 立即咨询
XRF/X射线荧光光谱

荷兰马尔文帕纳科panalytical Axios，元素测量范围为：4B~92U，主要分为EDXRF 和WDXRF光谱仪。射线荧光光谱分析技术已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一。

方案详情

 立即咨询
EPMA/电子探针

日本电子/JEOL JXA-8230，电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。可以进行点、线扫描、面扫描分析。

方案详情

 立即咨询
SAXS/小角散射

法国xenocs-Xeuss 2.0，区别于X射线大角衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，在靠近原光束2°～5°的小角度范围内发生的散射现象。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度测量。

方案详情

 立即咨询
ICP/电感耦合等离子体

美国Agilent 7700X，是用于原子发射光谱和质谱的主要光源，以ICP为中心，在周围安装多个检测单元（每一元素配一个检测单元）,形成了多元素分析系统。用它做激发光源具有检出限低、线性范围广、电离和化学干扰少、准确度和精密度高等优点。

方案详情

 立即咨询
EA/有机元素分析

德国Elementar Vario MACRO cube，利用高温燃烧法检测得到有机化合物中的各元素含量，具有CHN/CHNS/O三种测试模式。

方案详情

 立即咨询
TOC/总有机碳分析

德国耶拿MULTI N-C3100，溶液中有机碳经氧化转化为CO2，在消除干扰物质后由检测器测得CO2含量。利用CO2与总有机碳之间碳含量的对应关系，对溶液中的总有机碳进行定量测定。

方案详情

 立即咨询

湖南中邦恒科检测技术有限公司

15211134669

版权所有 © 2020 湖南中邦恒科检测技术有限公司湘ICP备2021016976号-1 网站地图营业执照查阅技术支持: 做网站